电路老化正在成为一系列终端市场的强制性设计问题，特别是在高级节点芯片预计将持续数年以上的市场中。一些芯片制造商认为这是一个竞争机会，但其他人不确定我们是否完全了解

众壹云 | 2021-07-27

测试是一件肮脏的事情。它会污染单元或晶片，或测试硬件，进而可能导致现场出现问题。 虽然这并没有被忽视，特别是随着引脚和焊球密度的增加导致成本上升，以及随着更多的芯片

众壹云 | 2021-07-21

将芯片测试结果与晶圆上的其他芯片进行比较有助于识别异常值，但将这些数据与异常值的确切位置相结合，可以更深入地了解可能出错的原因和原因。 异常值检测的主要思想是在晶片

众壹云 | 2021-07-20

随着机器学习行业的发展，重点已经从仅仅解决问题扩展到更好地解决问题。 更好通常意味着准确性或速度，但随着数据中心能源预算的激增和机器学习的边缘化，能源消耗已经取代准

众壹云 | 2021-07-19

先进节点和先进封装中的低功耗设计正成为一个多方面、多学科的挑战，其中一长串问题需要单独解决，也需要结合其他问题来解决。 随着每个新的前沿工艺节点，以及越来越密集的封

众壹云 | 2021-07-13

半导体和电子制造过程中会不会出现数据过多这种情况？答案是，这取决于。 从设计到制造再到现场，在整个半导体供应链中收集的数据中，估计有 80% 或更多从未被查看过。虽然这可

众壹云 | 2021-07-12

支持毫米波 (mmWave) 5G 信号的芯片的出现正在带来一系列新的设计和测试挑战。 在较低频率下可以忽略的影响现在很重要。与工作频率低于 6 GHz 的芯片相比，对 RF 芯片进行大批量测试需

众壹云 | 2021-07-09

ADC 代表模数转换器。顾名思义，它是以模拟信号的形式将其转换为数字信号的IP。它有助于将数字芯片连接到外部模拟世界。IP 块的输出采用二进制或数字数值的形式。 虽然模拟信号往

众壹云 | 2021-07-01